日本佑能DS?2数显测径仪，微小精密件的微米级质检利器

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返回列表 来源：发布日期： 2026.11.09

在半导体、PCB及精密探针加工赛道，微小工件的尺寸管控，直接决定成品良率。日本佑能UNIONTOOL DS-2数显测径仪，专为小径精密零件打造，测量量程0-4mm，指示精度可达0.2μm，分辨率0.1μm，测量稳定、重复性优异，是机边快速检测的优选量具。

DS-2数显测径仪特点

仪器内置交叉滚子直线轴承主轴，无间隙滑动，规避普通量具晃动带来的数据漂移；搭配可更换弹簧，支持四档测力切换，兼顾硬质工件与薄片、细线，既能稳稳夹持硬质测试探针，又不会压伤晶圆薄片、纤细引脚等易变形工件。硬质合金测砧耐磨持久，长期量产使用精度不易偏移；Type-C接口集供电与数据传输一体，测量数据一键导出，方便工厂搭建质量追溯体系，适配数字化质检流程。

DS-2数显测径仪

它的应用场景十分广泛，核心用于测试探针外径抽检与全检，同时适配 PCB 微钻针、晶圆片、半导体引脚、微细轴类等各类精密部件。PCB钻针直径一旦超差，极易引发断钻、孔壁粗糙；测试探针外径不稳，会造成接触不良、信号失效；半导体引脚尺寸偏差，则直接导致装配故障。DS-2数显测径仪可以快速捕捉微米级波动，帮助产线及时调整工艺，拦截不良品。

测量案例

整机小巧轻便，占地小，可就近放置在加工工位旁，实现机边随测。操作简单，一键读数，消除人工使用千分尺时施力不一的误差，批量检测效率更高。搭配不同选配测砧与载台，还可应对台阶件、窄槽等特殊测点，适配多样化检测需求。
对于深耕微小精密加工的企业而言，普通量具早已难以满足严苛公差。佑能DS-2数显测径仪凭借稳定的微米级测量能力，把可靠精度带到产线，为探针、微钻、半导体元器件等精密产品筑牢品质防线。

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